IC封装PCT老化试验箱（详细介绍：适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测

芯片高温高湿高压试验箱用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化

饱和加速寿命老化试验箱用途：使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。

hast非饱和试验箱圆型门设计，能够密封温度与压力安全锁定控制，锁牢固才能启动试验机，箱内压力超压时具有自动泄压或手动泄压。计时安装，LED数字型计时器，当锅内温度达到后计时器确保试验*，计时从表格1驱动。

欧可pct高温加速老化试验箱可测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

pct加速试验试验箱供电系统： 1、电源：单相380V50Hz3KW 2、试验用水：纯水 3、配有出厂合格证、保修卡、使用说明书各一份。